电子大神的日记本,供应链专家的功夫茶盘,在这里记录、分享与共鸣。

登录以开始

美研发新技术,可快速辨识石墨烯薄片缺陷

石墨烯(graphene)薄片制成的IC能以比硅芯片更低的温度、更高的速度运作,但遗憾的是,无缺陷的石墨烯薄片非常难产生,甚至其缺陷也很难表征出来。为此美国康乃尔大学(Cornell University)研究人员宣布发明了一种影像技术,能通过将石墨烯薄片色彩化,来简化其量测方法,快速地辨识出石墨烯薄片的特性。

 

康乃尔大学发明的新技术,能通过将完美的石墨烯片边缘着色,来区分出石墨烯薄片的哪些区域是真正的单层膜(monolayers);利用绕射成像电子显微镜(diffraction imaging electron microscopy),该技术能量测出电子从石墨烯薄片表面反弹的角度,然后用不一样的颜色来标示,所产生的色彩化薄片影像,就能很快地根据其定位辨识出晶界(grain boundaries)。

 

采用该技术所产生的影像,看起来就像是一幅拼布作品;较大的固定区域代表完美的单分子膜小薄片,被着色的边缘则代表那些小薄片之间的不完美接口。这个研发计划是由美国国家科学基金会(NSF)所赞助。

 

原文链接:

博主
anahublog@gmail.com
绝对新科技
本博客旨在为工程师们搜罗我认为必须关注的前瞻性科技,为将来的技术选择与职业发展方向提供快一步的科技资讯!
点击跳转